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Shanghai Jintong Instrument Co., Ltd
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Nikon Toe cut Difference Objectif

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Nikon Toe Cutting Differential objects CFI achromat LWD / ADL a spécialement développé cette gamme d'objectifs de microscope pour l'observation de la différence en utilisant son processus exclusif d'encollage pour améliorer l'anneau de phase de l'objectif. Il est maintenant possible d'observer plus clairement l'activité de zonage qui se produit à l'intérieur de l'échantillon - souvent masquée par des Halos de lumière indésirables.

Détails du produit

Nikon Toe cut Difference ObjectifCFI Achromat LWD/ADL

CFISérie achromatique, pour différence d'incision

Objectifs de la série CFI apochromatic pour la microscopie à contraste de phase

Nikon a spécialement développé cette gamme d'objectifs de microscope pour l'observation différentielle, en utilisant son processus breveté d'apoptose pour améliorer l'anneau de phase de l'objectif. Il est maintenant possible d'observer plus clairement l'activité de zonage qui se produit à l'intérieur de l'échantillon - souvent masquée par des Halos de lumière indésirables.

Nikon Toe cut Difference Objectif

Spécifications du produit

modèle

Dimensions extérieures

Taux de pénétration

NA

WD (mm)

Épaisseur des lamelles

Mode d'observation

CFI Achromat ADL 10XF

Figure

Graphique

0.25

6.20

1.20

BF, PH et POL*et FL

CFI Achromat LWD ADL 20XF

Figure

Graphique

0.40

3.10

1.20

BF, PH et POL*et FL

CFI Achromat LWD ADL 40XF

Figure

Graphique

0.55

2.10

1.20

BF, PH et POL*et FL

CFI Achromat LWD ADL 40XC

Figure

Graphique

0.55

2,70 - 1,70

0 - 2,00

BF, DF (sec / huile), PH,POL*et FL

BF: champ ouvert

DF: champ sombre

PH: différence

Pol: facile à polariser

FL: fluorescence

* peut mais non *

** ECLIPSE Ti2-EL'observation de contraste par contraste de phase externe peut être faite