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Pièce 4597, bâtiment 6, 1150, route de lanfeng, secteur de Fengxian, Shanghai
Shanghai Jintong Instrument Co., Ltd
1415268707@qq.com
13764885152
Pièce 4597, bâtiment 6, 1150, route de lanfeng, secteur de Fengxian, Shanghai
Nikon Toe cut Difference ObjectifCFI Achromat LWD/ADL
CFISérie achromatique, pour différence d'incision
Objectifs de la série CFI apochromatic pour la microscopie à contraste de phase
Nikon a spécialement développé cette gamme d'objectifs de microscope pour l'observation différentielle, en utilisant son processus breveté d'apoptose pour améliorer l'anneau de phase de l'objectif. Il est maintenant possible d'observer plus clairement l'activité de zonage qui se produit à l'intérieur de l'échantillon - souvent masquée par des Halos de lumière indésirables.
Nikon Toe cut Difference Objectif
Spécifications du produit
modèle |
Dimensions extérieures |
Taux de pénétration |
NA |
WD (mm) |
Épaisseur des lamelles |
Mode d'observation |
CFI Achromat ADL 10XF |
Figure |
Graphique |
0.25 |
6.20 |
1.20 |
BF, PH et POL*et FL |
CFI Achromat LWD ADL 20XF |
Figure |
Graphique |
0.40 |
3.10 |
1.20 |
BF, PH et POL*et FL |
CFI Achromat LWD ADL 40XF |
Figure |
Graphique |
0.55 |
2.10 |
1.20 |
BF, PH et POL*et FL |
CFI Achromat LWD ADL 40XC |
Figure |
Graphique |
0.55 |
2,70 - 1,70 |
0 - 2,00 |
BF, DF (sec / huile), PH,POL*et FL |
BF: champ ouvert
DF: champ sombre
PH: différence
Pol: facile à polariser
FL: fluorescence
* peut mais non *
** ECLIPSE Ti2-EL'observation de contraste par contraste de phase externe peut être faite