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Shanghai Haoliang Optoelectronic Equipment Co., Ltd
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Analyseur de front d'onde haute résolution / capteur de front d'onde / différentiateur de front d'onde

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Vue d'ensemble

L'analyseur de front d'onde haute résolution / capteur de front d'onde / différentiateur de front d'onde est basé sur la technologie d'interférence en cisaillement transversal à quatre ondes. L'analyseur de front d'onde de la série sid4 présente les avantages d'une résolution élevée, d'une achromatique, d'une sensibilité élevée, d'une plage de détection dynamique élevée, d'une facilité d'utilisation et d'autres avantages * par rapport aux détecteurs de front d'onde Shaker - Hartmann traditionnels.

Détails du produit

Analyseur de front d'onde haute résolution / capteur de front d'onde / différentiateur de front d'onde

400 x 300Haute résolution,500umPlage dynamique élevée, coût élevé, détection simultanée du front d'onde avecM^2Capteur de front d'onde!

Mots clés:Capteur de front d'onde, analyseur de front d'onde, aberrateur de front d'onde, capteur, testeur de front d'onde,Détecteur de front d'onde, analyseur de front d'onde laser, analyseur de front d'onde Hartmann,Localisation de l'iris, capteur de front d'onde Hartmann, différence de front d'onde, analyseur de front d'onde haute résolution, mesureur de front d'onde, faisceau laser et analyseur de front d'onde, Shaker Hartmann, lentilleMTF

Auto - développé par la sociétéLe capteur de front d'onde estBasé sur une technique d'interférence en cisaillement transversal à quatre ondes.SID4sérieAnalyseur de front d'onde plus traditionnel que le détecteur de front d'onde Shaker - HartmannHaute résolutionAchromatique, haute sensibilité,Plage de détection dynamique élevéeAvantages de l'opération facile, etc. PourAberration du front d'ondeDétection de distorsion de front d'onde et faisceau laser etFront de vagueLa mesure, l'analyse, le guidage des aberrations de front d'onde pour la localisation de l'iris ophtalmique et plus encore offrent une toute nouvelle solution!L'interface logicielle du détecteur de front d'onde est conviviale et permet une sortie intuitive avec des diagrammes de phase haute résolution et des diagrammes de distribution de l'intensité du faisceau.

Analyseur de front d'onde haute résolution / capteur de front d'onde / différentiateur de front d'onde

L'usine de production de capteurs de front d'onde aForte force de recherche et développement technologique, peut fournir aux clients divers systèmes optiques adaptatifsOA-SYS (boucles optiques adaptatives),Développer des solutions personnalisées. Peut être adapté pour les clients * zui selon les besoins de l'application du clientSID4Capteur de front d'onde, miroir déformable ouModulateur spatial de lumière, logiciel d'exploitation de système optique adaptatif, etc.

Figure 1 Comparaison du front d'onde avant correction et après correction

Détecteur de front d'onde selon son cisaillement transversal à quatre ondesInterférenceLa technologie, la technologie de masque Hartmann a fait de grandes mises à niveau, améliorations.Le capteur de front d'onde sera400 x 300Ultra haute résolution et500umLa très grande plage dynamique * est combinée. Peut répondre aux besoins d'application de différents clients, peut effectuer l'intensité lumineuse, la phase du faisceau laser,PSF(fonction de diffusion de points),MTF(Fonction de transfert de modulation),OTF(fonction de transfert optique),Aberration du front d'ondeEt,M^2Mesure simple, rapide et en temps réel.

* DépartementPrésentation du produit

SID4 UV-HRCapteur de front d'onde ultraviolet haute résolution

La société seraSID4La gamme de longueurs d'onde de mesure de front d'onde s'étend à190nm à 400nm- Oui.SID4 UV-HREst un capteur de front d'onde haute résolution pour la bande ultraviolette, idéal pour la mesure de composants optiques (par exemple, impression, semi - conducteurs, etc.) et la détection de surface (détection de plaquettes semi - conductrices, etc.).

Caractéristiques:

uHaute résolution(250x250) et

uGrande ouverture lumineuse(8,0mmx8,0mm) et

uCouvrir le spectre ultraviolet

uHaute sensibilité(0,5 um) et

uOptimisation du rapport signal sur bruit

Figure 2 analyseur de front d'onde sid4 - UV

SID4Capteur de front d'onde

Disponible pour400 nm à 1000 nm Phase de front d'onde du laser, distribution d'intensité, aberration de front d'onde, laserM2Les paramètres zenick, etc. effectuent des mesures en temps réel et des sorties de paramètres.

Caractéristiques:

En basGamme de longueur d'onde:400 à 1100nm

En basHaute résolution(160x120) et

En basAchromatique

En basHaute stabilité de mesure

En basInsensible aux chocs

En basFacile à utiliser

En basStructure compacte, petite taille

En basContrôle d'ordinateur portable disponible

Figure 3SID4Détection de phase

Peut être utilisé pour détecter diversLentilles, systèmes optiquesLa détection peut être effectuée en temps réel sur les lentilles, les systèmes optiquesPSF(fonction de diffusion de points),MTF(fonction de transfert de modulation),OTF(optiqueFonction de transfert), mesure des aberrations de front d'onde et sortie des paramètres. Par rapport aux équipements de détection de lentilles traditionnels tels que: transmetteur, interféromètre, avec des avantages tels que l'opération facile, la précision de mesure élevée et la sortie de paramètres pratique, sont admirés par de plus en plus de clients.

Caractéristiques:

uGamme de longueur d'onde:400 à 1100nm

uCaméra haute performance avec un rapport signal / bruit élevé

uMesure en temps réel donnant instantanément des informations sur toute la surface de l'objet (120000Un point de mesure)

uTemps d'exposition extrêmement court, garantissant une mesure dynamique des objets

uFacile à utiliser

Figure 4SID4-HR

Figure5 SID4-HRDétection de fonction de transfert

SID4 NIR Analyseur de front d'onde

Principalement pourde 1550 nm(1.5um-1.6um) etDétection par laser avec haute résolutionHaute sensibilité,Plage dynamique élevéeAvantages de l'opération facile, etc. Peut être utilisé pour des mesures optiques,SID4 NIREst la mesure des objets infrarouges et des aberrations des lentilles infrarouges,PSFEt,MTFEt l'outil idéal pour la longueur focale et la qualité de surface.

Caractéristiques:

²Haute résolution (160x120) et

²Mesure rapide

²Rapport qualité - prix élevé

²Mesure

²Insensible aux vibrations

Figure6 SID4 NIRDétection de front d'onde laser

SID4 DWIRFront d'onde

Caractéristiques de mesure large bande. Détection possible en temps réel3 à 5umet8 à 14umInformations de front d'onde sur la phase de front d'onde, la distribution d'intensité, etc. en réponse. Peut très bien répondre aux besoins de détection de front d'onde des clients de la bande infrarouge.

Caractéristiques:

uMesures optiques:SID4 DWIREst la mesure des propriétés des objets infrarouges (imagerie thermique et vision de sécurité) ou des lentilles infrarouges (CO2Laser) L'outil idéal, le résultat de sortie comprendMTF,PSF, aberrations, qualité de surface et distance focale de l'objectif.

uMesure du faisceau: (CO2Laser, infrarougeOPOSource de lumière laser, etc.)SID4 DWIRFournir des paramètres exhaustifs de caractérisation du faisceau: aberrations,M2, distribution de l'intensité lumineuse, caractéristiques du faisceau lumineux, etc.

uHaute résolution (96x72) et

uMesure réalisable

uPeut couvrir la mesure de grande ouverture numérique dans les bandes infrarouge moyen et lointain sans lentilles de transit supplémentaires

uMesure rapide insensible aux vibrations

uMesure hors axe possible

uRapport qualité - prix élevé

Figure7SID4 DWIR

SID4Résumé des paramètres du modèle de produit

modèle

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

Taille d'ouverture (mm2) et

3,6 x 4,8

8,9 x 11,8

8,0 x 8,0

3,6x4,8

13,44x10,08

9,6x7,68

Résolution spatiale(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

Nombre de points de mesure

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80x64

Gamme de longueurs d'onde

350 à 1100 nm

350 à 1100 nm

190 à 400 nm

1,5 à 1,6 µm

3-5 µm 8-14 µm

0,9 à 1,7 µm

Précision

RMS de 10 nm

RMS de 10 nm

RMS de 10 nm

> RMS de 15 nm

RMS de 75 nm

RMS de 10 nm

Gamme dynamique

> 100 µm

> 500 µm

> 200um

> 100 µm

/

~ 100 µm

Vitesse d'échantillonnage

60 images par seconde

10 images par seconde

30 images par seconde

60 images par seconde

50 images par seconde

60 images par seconde

Vitesse de traitement

> 10fps

> 3 fps

1fps

< 10fps

20 Hz

> 10 Hz

Deuxième partieLogiciel de contrôle

SID4Logiciel de contrôle d'analyseur de front d'onde

SID4Logiciel de contrôle d'analyseur de front d'ondeLivré avec le capteur de front d'onde sid4 est un logiciel d'analyse complet qui intègre des cartes de phase haute résolution avec des cartes de distribution d'intensité pour mesurer la distribution de l'intensité lumineuse et les informations de front d'onde.

à l'aide deLabvueetC++Une base de données de modules programmables (Software Secondary Development Kit) qui permet aux clients d'écrire divers modules de mesure de phase et de compilation en fonction de leurs besoins.

Boucles optiques adaptativesmettreSID4 Capteur de front d'ondeCombinez votre application avec un miroir déformable approprié ou un modulateur de phase pour offrir une gamme complète d'optiques adaptatives. Réduire la différence de n'importe quel système optique n'est jamais simple, et nos produits apportent des solutions plus fiables et de haute précision aux faisceaux laser et aux systèmes d'imagerie.

Figure8 SID4Interface de contrôle

SID4Logiciel de mesure optiqueKaleo

Capteur de front d'onde basé sur l'interférence de cisaillement avec un logiciel de mesure optique spécialement conçuKaleoEn combinaison, il est possible de mesurer les aberrations des miroirs sphériques et asphériques etMTFEtc. information. Cela ne prend que quelques secondes, nos instruments vous présentent la grande majorité des paramètres optiques tels que la distance focale, la taille de la lumière,MTF, aberrations,ZernikeCoefficient, rayon de courbure,PSFAttendez.

Troisième partieComparer avec analyseur de front d'onde Hartmann traditionnel

Comparaison avec les résultats des mesures des capteurs Hartmann traditionnels de front d'onde:

Comparaison des paramètres techniques:

PHASIQUES

de Shack-Hartmann

La différence

technologie

Interférence de cisaillement

Matrice de microlentilles

PHASIQUESAu moment de la mise sur le marché, la technologie a été demandée, est une mise à niveau de la technologie de Shaker - Hartmann

La manière de reconstruire

Transformation de Fourier

Méthode de zonage ou de mode

Shaker - Hartmann détecteur de front d'onde, dérivée locale approximée par la moyenne de la région de la cellule de Microlentille, grande erreur

Intensité

Insensibilité aux variations d'intensité

Sensible aux variations d'intensité

PHASIQUESHaute précision de mesure, la mesure du front d'onde ne dépend pas du niveau d'intensité

étalonnage

Calibration avec trou d'épingle, facile et rapide

Installation difficile, nécessite une table de réglage précise

PHASIQUESFacilité d'utilisation

Points d'échantillonnage

SID4-HRDa300x400Points de mesure

128x128Points de mesure (plusieurs microlentilles)

PHASIQUESAvec une résolution plus élevée

Ouverture numérique

NAPour:0.5

NAPour:0.1

PHASIQUESPlage dynamique plus élevée

Résolution

29,6 μm

115 μm

PHASIQUESAvec une résolution spatiale plus élevée

Précision de mesure

RMS de 2 nm

RMS de 5 nm

PHASIQUESMeilleure précision de mesure

Fréquence d'acquisition

60 images par seconde

30fps

PHASIQUESObtenez rapidement

Fréquence de traitement

> 10 Hz

30Hz

PHASIQUESPeut répondre à la plupart des exigences de traitement

Achromatique

Aucun étalonnage requis pour chaque longueur d'onde

Correction nécessaire à chaque longueur d'onde

PHASIQUESPlus flexible, peut tester une large bande sans Calibration

Quatrième partieDomaines d'application

En basLaser, astronomie, microscopie, ophtalmologie, etc.Adaptations complexesSystème optique détection d'aberrations de front d'onde

En basPerformance du faisceau laser, aberration du front d'onde,M^2Détection de la force, etc.

En basDétection infrarouge, proche infrarouge

En basTubes de lumière parallèles/Détection et montage de systèmes de télescopes

En basDomaine de la télédétection par satellite, bio - imagerie, imagerie thermique

En basSphérique, asphériqueDétection de composants optiques(Plan,Surface sphérique,Lentilles) et

En basGuidage des aberrations de positionnement de l'iris

En basDétection de composants optiques de haute précision de grand calibre

En basDomaine de la communication laser

En basDomaine aérospatial