Analyseur de conductivité thermique (LFA 457 microflash)

I. Introduction au produit

NETZSCH LFA 457 MicroFlash ® Représente une toute nouvelle avancée dans la technologie moderne de mesure par flash laser. L'instrument est de type table, plage de température - 125. 1100°c. Pour couvrir cette plage de température, deux corps de four librement commutables sont prévus.

La toute nouvelle technologie de capteur infrarouge utilisée par le système permet aux utilisateurs de -125℃ La courbe d'élévation de température sur le dos de l'échantillon est mesurée à basse température.

L'instrument permet à la fois de mesurer plusieurs échantillons plus petits en une seule montée en température à l'aide d'un commutateur d'échantillon automatique intégré, ou de mesurer individuellement des échantillons plus grands (zui grand diamètre)25.4mm).

Le système de fermeture sous vide permet à l'instrument d'effectuer des mesures dans une variété d'atmosphères sélectionnables par l'utilisateur.

La disposition verticale du support d'échantillon, du corps du four et du détecteur facilite le placement et le remplacement de l'échantillon, tout en permettant au signal de détection d'avoir un excellent rapport signal / bruit.

LFA 457Est puissant et flexibleLFASystèmes pour la caractérisation de matériaux conventionnels et de nouveaux matériaux haute performance dans divers domaines, notamment la construction automobile, l'aérospatiale et les technologies énergétiques.

II. Paramètres techniques

●Plage de température:- 125. . 500℃，RT ... 1100℃(avec deux corps de four librement remplaçables)

●Taux de température de levage et de descente:0,01. .. 50 K/min

●Énergie laser:18.5 J/pulse(puissance réglable)

●À l'aide d'un détecteur infrarouge, effectuez un test sans contact du signal d'élévation de température de la surface de l'échantillon

●Gamme de coefficient de diffusion thermique:0,01. .. 1000 mm2/s

●Gamme de conductivité thermique:0,1. .. 2000 W/m*K

●Diamètre de l'échantillon:10. .. 25.4 mmCercle, ou8×8Avec10 × 10 mmLe parti.

●Épaisseur de l'échantillon:0,1. .. 6 mm

●Support d'échantillon: carbure de silicium, graphite

●Récipient en métal fondu: saphir

●Récipient pour échantillon liquide: Platinum

●Atmosphère: inerte, oxydante, réductrice, statique, dynamique

●Système de fermeture sous vide, degré de vide10-2mbar

Iii. Fonctions du logiciel

LFA 457 MicroFlash ®Le logiciel de mesure et d'analyse est basé surMicroSoft Windows ®Du systèmeProteus ®Package logiciel, il contient toutes les fonctions de mesure et d'analyse de données nécessaires. Ce package dispose d'une interface utilisateur extrêmement conviviale, comprend des opérations de menu faciles à comprendre et des processus d'exploitation automatisés, et convient à toutes sortes d'analyses complexes.ProteusLe logiciel peut être installé sur l'ordinateur de contrôle de l'instrument pour fonctionner en ligne ou installé sur d'autres ordinateurs pour une utilisation hors ligne.

LFACertaines fonctionnalités du logiciel:

●Correction précise de la largeur d'impulsion avec intégration de l'énergie d'impulsion.

●Correction des pertes thermiques.

●Tous les modèles traditionnels sont intégrés.

●Réalisé avec régression non linéaireCowanAjustement.

●AmélioréCape-LehmannModèle, utilisant une régression non linéaire, intégrant les pertes thermiques dans le calcul.

●Pour la correction de rayonnement des échantillons translucides.

●Échantillons de structure à deux ou trois couches: ajustement par régression non linéaire et inclusion des pertes thermiques dans le calcul.

●Calculer la résistance thermique de contact d'un échantillon multicouche.

●Mesure de la chaleur spécifique: elle est calculée par une méthode comparative à l'aide d'un échantillon étalon dont la chaleur spécifique est connue.

●Base de données intégrée.

Iv. Annexes connexes

LFA 457 MicroFlash ®Equipé d'un bain d'eau thermostatique pour garantir la stabilité de la température et de longues heures de travail.

De nombreux types de pompes à vide sont disponibles, ce qui permet de réaliser les essais sous vide ou sous atmosphère inerte pure et sans oxygène.

Débitmètre pour réguler le débit du gaz de purge.

ParSiCOu support d'échantillon en graphite avec couvercle d'échantillon, adapté aux tailles d'échantillon standard.

Fournir de nombreux types de supports d'échantillons ou de récipients d'échantillons de différentes tailles en platine, aluminium, saphir, etc. pour mesurer des échantillons spéciaux tels que des échantillons liquides, des métaux en fusion, des scories et des fibres.

Fournir des échantillons standard pour la vérification du coefficient de diffusion thermique.

Fournir un échantillon de référence pour les tests de chaleur spécifique.

Équipement de fabrication d'échantillons.