Oscilloscope à échantillonnage numérique Tektronix

Oscilloscope à échantillonnage numérique Tektronix

Caractéristiques:

Précision de mesure du signal du module électrique:

• Très faible gigue du système (< 100 FS, typique)
• > 70 GHz

Obtenez un bruit système plus faible dans l'industrie sur toutes les bandes passantes:

• Grande valeur 600 µv (typique 450 µv) @ 60 GHz
• Grande valeur 380 µv (typique 280 µv) @ 30 GHz

Une gigue < 100 fs est acquise simultanément sur 6 canaux au sein d'un même hôte.

Le module optique prend en charge les tests de conformité optique à tous les débits standard d'Ethernet de 155 MB / s à 100 GB / S (4x25).

Excellent débit d'acquisition, taux d'échantillonnage jusqu'à 300 KS / S.

Possibilité de placer l'échantillonneur à proximité de l'appareil testé (DUT).

Canal calibré indépendant avec correction de différence.

Oscilloscope à échantillonnage numérique Tektronix avantagePour:

La gigue de base < 100 fs permet la détection de périphériques à haut débit binaire (40 et 100 (4′25) GB / s), typiquement < 5% de l’intervalle d’unité de signal utilisé par l’instrument de test. La bande passante de 70 GHz permet une détection complète des signaux à haut débit (harmoniques d'ordre 5 avec un débit de données de 28 GB / s et harmoniques d'ordre 3 avec un débit de données > 45 GB / s).

Réduire considérablement la quantité de bruit de l'instrument lors de l'acquisition de signaux à haut débit et de faible amplitude, en évitant d'autres bruits qui pourraient apporter une gigue supplémentaire et la fermeture de l'oculogramme.

L'acquisition haute fidélité de plusieurs canaux différentiels permet d'effectuer des tests de dommages inter - canaux, améliorant ainsi le débit de test de plusieurs systèmes de canaux série haute vitesse.

Systèmes de test optique abordables et polyvalents pour les normes optiques monomodes et multimodes, allant de 155 MB / S (OC3 / stm1) à 40 GB / S (SONET / SDH et Ethernet 40 gbase) et 100 GB / s Ethernet (100 gbase - sr4, - lr4 et er4) avec des longueurs d'onde de 850, 1310 et 1550 nm.

Grâce à l'excellent débit du système, le temps de test de fabrication ou de vérification de l'équipement peut être réduit jusqu'à 4 fois.

La tête d'échantillonnage à distance réduit considérablement la détérioration du signal causée par les câbles et les pinces entre le DUT et l'instrument, simplifiant ainsi l'anti - incrustation du système de test.

La correction de différence de canal calibrée intégrée dans le module à deux canaux élimine le décalage temporel et améliore la fidélité du signal pour les mesures multicanaux.