Oxford Oxford cmi760 PCB face cuivre / trou cuivre jauge d'épaisseur

Oxford Oxford cmi760 cuivre de trou de carte PCB & face Épaisseur de cuivre

Oxford Oxford cmi760 Épaisseur de cuivre de trou de plaque de ligne & face cmi700

Le CMI 700 a été spécialement conçu pour répondre aux besoins de mesure de l'épaisseur du cuivre et de contrôle de la qualité dans l'industrie des circuits imprimés.

Le CMI 760 peut être utilisé pour mesurer l'épaisseur du cuivre en surface et à l'intérieur des perforations. Ce système de mesure d'épaisseur de table à haute évolutivité utilise des méthodes telles que la micro - résistance et les courants de Foucault électriques pour obtenir des mesures précises et précises de l'épaisseur du cuivre en surface et à l'intérieur des perforations. Le système de mesure de table CMI 700 est extrêmement polyvalent et évolutif, et la compatibilité avec une large gamme de sondes lui permet de répondre à de nombreux besoins d'application, y compris la mesure du cuivre de surface, du cuivre à l'intérieur des perforations et de l'épaisseur du cuivre à l'intérieur des micropores, ainsi que Les tests de qualité du cuivre à l'intérieur des pores.

Le CMI 760 dispose d'une fonction statistique * pour l'analyse des données de test.

La configuration CMI 700 comprend:

CMI 700 hôtes et certificats

Sonde SRP - 4

SRP - 4 remplacement de la sonde par module de sonde (1 pièce)

Normes et certificats certifiés NIST

Accessoires en option:

ETP Probe TRP Probe SRG logiciel

Paramètres techniques de test de la sonde de cuivre SRP - 4 faces:

Gamme de mesure d'épaisseur de cuivre:

Cuivre chimique: 10 μin – 500 μin (0,25 μm – 12,7 μm)

Cuivre galvanisé: 0,1 mil – 6 mil (2,5 μm – 152 μm)

Gamme de largeur de ligne testable en cuivre linéaire: 8 Mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

Précision: ± 1% (± 0,1 μm) référence feuille standard

Précision: cuivre chimique: écart type 0,2%; Cuivre galvanisé: écart - type 0,5%

Résolution: 0,01 mils ≥ 1 Mil, 0001 mils < 1 Mil,

0,1μm≥10μm, 0,01μm < 10μm, 0,001μm < 1μm

Paramètres techniques d'essai de sonde de cuivre de trou d'ETP:

Diamètre du petit trou zui testable: 35 mils (899 μm)

Plage d'épaisseur mesurée: 0,08 – 4,0 mils (1 – 102 μm)

Principe des courants de Foucault électriques: respect des dispositions pertinentes de la norme ASTM - e376 - 96

Précision: ± 0,01 mil (0,25 μm) < 1 Mil (25 μm)

Précision: 1,0% (en laboratoire) à 1,2 mil (30 μm)

Résolution: 0,01 mil (0,1 μm)

Affichage numérique LCD 6 bits

Unité de mesure Um - mils facultatif

Statistiques moyenne, écart - type, zui grand Max, zui petit min

Interface 232 port série, impression simultanée

Alimentation électrique ac220

Dimensions de l'instrument 290x270x140mm

Poids de l'instrument 2,79 kg