Netzsch nanotr / picotr laser pulsé réflectométrie thermique conductrice

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Vue d'ensemble

Netzsch nanotr / picotr Pulse Laser thermoréflectométrie conductrice thermique, Hubei anhe Instruments Co., Ltd., agent de vente pour netzsch Allemagne dans la région de la Chine centrale, principale: analyseur thermogravimétrique, calorimètre à balayage différentiel, analyseur thermique synchrone, analyseur thermomécanique, analyseur thermomécanique dynamique, valeur forte, analyseur thermomécanique dynamique à haute température, moniteur de durcissement de résine diélectrique, série d'instruments de mesure de la matière thermique, série de calorimètres Accélérateurs adiabatiques, etc.

Détails du produit

Netzsch nanotr / picotr laser pulsé réflectométrie thermique conductrice, Hubei anhe Instruments Co., Ltd., pour l'Allemagne netzsch dans la région de la Chine centrale, agent de vente, principale: analyseur thermogravimétrique, calorimètre à balayage différentiel, analyseur thermique synchrone, analyseur thermomécanique, analyseur thermomécanique dynamique, valeur de force, analyseur thermomécanique dynamique à haute température, moniteur de solidification de résine diélectrique, série d'instruments de mesure thermoplastiques, série de calorimètres Accélérateurs adiabatiques et autres produits de toute la gamme netzsch en Allemagne.

Utilisation du produit:

La méthode de réflexion thermique est basée sur un système de flash laser ultra - rapide qui permet de mesurer les paramètres thermoplastiques tels que le coefficient de diffusion thermique, la conductivité thermique, le coefficient d'absorption thermique et la résistance thermique interfaciale des films métalliques, céramiques et polymères sur substrat. Ce système peut mesurer des films jusqu'à 10 nm d'épaisseur. Dans le même temps, le système offre différents modes de mesure pour s'adapter à différentes situations de substrat (transparent / opaque).

Performance du produit:

Le temps de flash laser n'étant que de l'ordre de la nanoseconde (NS), voire de l'ordre de la picoseconde (PS), ce système permet de mesurer des films minces jusqu'à 10 nm d'épaisseur.
Le système offre différents modes de mesure pour s'adapter à différentes situations de substrat (transparent / opaque).
Mode de mesure RF: la source laser principale chauffe le film à l'envers, détecte le processus d'élévation de température du film à partir de la face avant et calcule ainsi les paramètres de performance de conductivité thermique du film. Ce mode est adapté aux substrats transparents.
Mode de mesure ff: la source laser principale chauffe le film depuis la face avant, le laser de détection mesure le processus de chute de température du film depuis la face avant et calcule ainsi les paramètres de performance de conductivité thermique du film. Ce mode est adapté aux substrats opaques.
Cette méthode est conforme aux normes:
JIS r 1689: mesure du coefficient de diffusion thermique des films minces en céramique fine par la méthode de réflexion thermique par laser pulsé;
JIS r 1690: méthode de mesure de la résistance thermique interfaciale des films céramiques et métalliques.

Paramètres du produit:

Brève histoire du développement:

En 1990, l'Institut japonais de recherche intégrée sur la technologie industrielle / Japon * (aist / nmij) a inventé la méthode de réflexion thermique pour mesurer la conductivité thermique des films minces.
En 2008, aist crée la société picotherm.
En 2010, la société picotherm a lancé nanotr, un système de réflexion thermique à l'échelle de la nanoseconde.
En 2012, la société picotherm a lancé picotr, un système de réflexion thermique de classe picoseconde.
En 2014, picotherm et netzsch ont établi une coopération stratégique. Netzsch est responsable de la vente et du Service des produits picotherm.

Introduction

Contexte technique

Mode de mesure

Modèle d'instrument

Paramètres techniques

Fonctions du logiciel

Exemples de tests

Service d'échantillonnage

		Le NanoTR	le PicoTR
Hôte	Plage de température 真空度 Mode de mesure	RT, RT... 300 °C (en option) N/A RF/FF	RT, RT... 500 °C (en option) 10 - 6 mBar (en option) RF/FF
Projet de mesure		Coefficient de diffusion thermique, coefficient d'absorption thermique, résistance thermique interfaciale
Chauffage laser	Largeur d'impulsion Longueur d'onde Diamètre du spot	1 ns de 1550 nm 100 μm	0,5 ps de 1550 nm de 45 μm
Détection laser	Largeur d'impulsion Longueur d'onde Diamètre du spot	Continu 785 nm 50 μm	0,5 ps 775 nm 25 μm
Épaisseur de la couche mince de l'échantillon (mode RF)	résine céramique métal	à 30 nm. à 2 μm à 300 nm. à 5 μm 1 μm. à 20 μm	à 10 nm. 100 nm à 10 nm. 300 nm à 100 nm. 900 nm
Épaisseur de la couche mince de l'échantillon (mode ff)		> 1 μm	> 100 nm
Le corps de base	matériaux taille épaisseur	Opaque / transparent 10...20mm carrés ≤ 1 mm
Temps de diffusion thermique		10ns. .. 10 µs	10 points. .. 10ns
Coefficient de diffusion thermique	La portée Précision répétitivité	0.01 . .. 1000 mm²/s CRM 5808a, 400nm d'épaisseur, mode RF, 40min temps de test vérifié: ± 6,2%

Netzsch nanotr / picotr laser pulsé réflectométrie thermique conductrice, Hubei anhe Instruments Co., Ltd., agent de vente en Chine centrale pour netzsch Allemagne, principale: analyseur thermogravimétrique, calorimètre à balayage différentiel, analyseur thermique synchrone, analyseur thermomécanique, analyseur thermomécanique dynamique, valeur de force, analyseur thermomécanique dynamique à haute température, moniteur de solidification de résine diélectrique, série d'instruments de mesure thermodynamique, série de calorimètres Accélérateurs adiabatiques, etc. produits complets de netzsch Allemagne

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