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Fulde (Shanghai) Instrument Equipment Co., Ltd
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ELTRA (ELTRA) lance un nouvel analyseur de carbone et de soufre elementrac CS - I
Date :2022-07-09Lire :0

  En janvier 2018, ELTRA (ELTRA), en Allemagne, a lancé le nouvel analyseur de carbone et de soufre elementrac CS - I. Le nouveau elementrac CS - I est spécialement développé pour la détermination de la teneur en carbone et en soufre, il utilise un four à induction à haute fréquence pour passer dans un échantillon d'oxycombustion pure, tout en étant équipé de zui Multi 4 cellules de détection infrarouge haute sensibilité pour déterminer la teneur en carbone et en soufre, la plage de détermination peut être ajustée en fonction des exigences spécifiques de l'utilisateur.

Nouveau elementrac CS - I détails avantages:

  • Configurez librement différentes gammes de pools de détection infrarouge
  • Nouveau système de dépoussiérage automatique pour assurer une plus grande précision et stabilité de mesure
  • Nouveau dispositif thermostatique de filtre à poussière conçu pour améliorer la précision de détection du soufre
  • Four catalytique à réaction nouvellement conçu pour une détermination plus précise du carbone
  • La puissance du four à induction à haute fréquence nouvellement conçue peut être réglée arbitrairement, pour la détermination d'échantillons à faible point de fusion plus
  • Nouveau logiciel elements avec fonctions d'analyse et de diagnostic

Paramètres:

Plage de mesure * 1,0 g d'échantillon
Carbone * 0,5 ppm – 6,0 %
Soufre * 0,5 ppm – 4,5 %

Paramètres conventionnels
Temps de test 40 s
étalonnage échantillon d'étalon solide
détection Méthode d'absorption infrarouge
échantillons typiques Fer, fonte, cuivre, minerai, ciment, alliage, sol, verre, métaux non ferreux, alliage
Réactifs

- Perchlorate de magnésium anhydre

- hydroxyde de sodium inerte (fixé sur un support inerte)

- catalyseur platine - silicium
alimentation

230 V AC ± 10 % 50/60 Hz

zui大15 A et 3450 W
Gaz requis

Oxygène 99,5% (2 à 4 bars)

- air comprimé (4 bar)

interface USB

* La plage de mesure est liée à la configuration de l'instrument